影響渦流涂鍍層測厚儀測量精度的原因 分析如下:
(1)覆蓋層厚度大于25µm時(shí),其誤差與覆蓋層厚度近似成正比;
(2)基體金屬的電導率對測量有影響,它與基體金屬材料成分及熱處理方法有關(guān);
(3)任何一種測厚儀都要求基體金屬有一個(gè)臨界厚度,只有大于這個(gè)厚度,測量才不會(huì )受基體金屬厚度的影響;
(4)渦流測厚儀對式樣測定存在邊緣效應,即對靠近式樣邊緣或內轉角處的測量是不可靠的.
(5)試樣的曲率對測量有影響,這種影響將隨曲率半徑的減小明顯地增大;
(6)基體金屬和覆蓋層的表面粗糙度影響測量的精度,粗糙度增大,影響增大;
(7)渦流測厚儀對妨礙測頭與覆蓋層表面緊密接觸的附著(zhù)物質(zhì)敏感.因此測量前應清除測頭 和覆蓋層表面的污物;測量時(shí)應使測頭與測試表面保持恒壓垂直接觸.
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