談一談幾種常見(jiàn)的露點(diǎn)儀的工作原理
更新時(shí)間:2021-06-17 點(diǎn)擊次數:2173
1.鏡面式露點(diǎn)儀
不同水份含量的氣體在不同溫度下的鏡面上會(huì )結露。采用光電檢測技術(shù),檢測出露層并測里結露時(shí)的溫度,直接顯示露點(diǎn)。鏡面制冷的方法有:半導體制冷、液氮制冷和高壓空=制冷。鏡面式露點(diǎn)儀采用的是直接測里方法,在保證檢露準確、鏡面制冷高效率和精密測里結露溫度前提下,該種露點(diǎn)儀可作為標準露點(diǎn)儀使用。目前國際上*高精度達到0.1C露點(diǎn)溫度),一般精度可達到+05C以?xún)取?br />
2.電傳感器式露電儀
采用親水性材料或憎水性材料作為介質(zhì),構成電容或電阻,在含水份的氣體流經(jīng)后,介電常數或電導率發(fā)生相應變化,測出當時(shí)的電容值或電阻值,就能知道當時(shí)的體水份含里。建立在露點(diǎn)單位制上設計的該類(lèi)傳感器,構成了電傳感器式露點(diǎn)分析儀。目前國際上*高精度達到t 1.0C露點(diǎn)溫度), -般精度可達到3C以?xún)取?br />
3.電介法露點(diǎn)儀
利用五氧化二磷等材料吸濕后分解成極性分子,從而在電極上積累電荷的特性,設計出建立在絕對含濕里單立制上的電解法微水份儀。目前國際上*高精度達到土1.0C (露點(diǎn)溫度),一般精度可達到土3C以?xún)取?br />
4.晶體振蕩式露點(diǎn)儀
利用晶體沾濕后振蕩頻率改變的特性,可以設計晶體振蕩式露點(diǎn)儀。這是一項較新的技術(shù),目前尚處于不十分成熟的階段。國外有相關(guān)產(chǎn)品,但精度較差且成本很高。
5.紅外露點(diǎn)儀
利用氣體中的水份對紅外光譜吸收的特性,可以設計紅外式露點(diǎn)儀。目前該儀器很難測到低露點(diǎn),主要是紅外探測器的峰值探測率還不能達到微里水吸收的量級,還有氣體中其他成份含里對紅外光譜吸收的干擾。但這是一項很新的技術(shù), 對于環(huán)境氣體水份含里的非接觸式在線(xiàn)監測具有重要的意義。
6.半導體傳感器露點(diǎn)儀
每個(gè)水分子都具有其自然振動(dòng)頻率,當它進(jìn)入半導體晶格的空隙時(shí),就和受到充電激勵的晶格產(chǎn)生共振,其共振頻率與水的摩爾數成正比。水分子的共振能使半導體結放出自由電子,從而使晶格的導電率增大,阻抗減小。利用這一特性設計的半導體露點(diǎn)儀可測到100C露點(diǎn)的微里水份。